日本KETT凱特MP0R-FP雙型膜厚計
小型探針型雙膜厚計
搭載自動素地判別功能
測量范圍電磁式?渦電流式共通：0～2000µm
數(shù)據(jù)存儲器約1000點，統(tǒng)計計算功能


主要規(guī)格：
測量方式 電磁感應(yīng)式/渦流式兼用
測量對象 磁性金屬上非磁性覆膜及非磁性金屬上的絕緣覆膜
測量范圍 0～2000μm（電磁?渦電流式）
誤差范圍 0?75μm：±1.5μm以內(nèi)（電磁式）0?50μm：±1μm以內(nèi)（渦電流式）50～1000μm：±2%以內(nèi)（電磁?渦電流式）1000～2000μm：±3%以內(nèi)（電磁?渦電流式）
分辨率 100μm以下0.1μm、100μm以上1.0μm
統(tǒng)計功能 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、測量次數(shù)、*小值、*大值
其他功能 自動素材判別、自動電源ON/OFF、上下限設(shè)定
探測 1點接觸恒壓式
顯示方式 數(shù)字（液晶屏）
電源 電池1.5V（單3堿）已重命名2
尺寸、質(zhì)量 64（W）已重命名30（D）已重命名85（H）mm、0.14 kg（含電池）

附屬品 機(jī)器外殼、機(jī)器保護(hù)套、攜帶用皮帶、電池1.5V（單3）已重命名2、鐵坯、鋁坯、標(biāo)準(zhǔn)板、操作手冊、驅(qū)動器及程序支持CD、USB電纜、制造商保證書

中崎目前已獲得CCS晰寫速、SEN日森、EYE巖崎、USHIO牛尾、FUNATECH船越龍、HIKARIYA光屋、SERIC索萊克、REVOX萊寶克斯、ORIHARA折原、SONIC索尼克、YUASA尤安薩、EYELA東京理化、SANKO三高、NEWKON新光、HEIDON新東科學(xué)、SIBATA柴田科學(xué)、HORIBA堀場、TAKASAGO高沙、MITUTOYO三豐、JIKCO吉高、NPM日脈、AND艾安德、ONOSOKKI小野、PISCO碧士克、TOPCON拓普康、NDK電波工業(yè)、STANLEY史丹利、HIOS好握速、SATA世達(dá)、HAKKO白光、TOHNICHI東日、NITTO KOHKI日東工器等多家品牌授權(quán)認(rèn)證。